連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀
產(chǎn)品名稱: 連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀
產(chǎn)品型號: TH-11
產(chǎn)品特點: 連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀 特點可以測量鋼、鎳、銅、鋅、鋁、金、銀、銅-鋅合金、銅-錫合金等的鍍層厚度。可以測量非鐵金屬(鎳-磷、鎳-硼、銅-錫)的無電解鎳鍍層。可以測量多層鍍層。
連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀 的詳細介紹
連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀
連接電腦型電解式鍍層厚度測量儀
特點
可以測量鋼、鎳、銅、鋅、鋁、金、銀、銅-鋅合金、銅-錫合金等的鍍層厚度。
可以測量非鐵金屬(鎳-磷、鎳-硼、銅-錫)的無電解鎳鍍層。
可以測量多層鍍層。
可以通過簡單的操作顯示測量結(jié)果。
可以顯示電極電位。
可以顯示測量結(jié)果的統(tǒng)計處理。
可以保存測量結(jié)果,并可制作報告書、圖表。
測量結(jié)果可以保存在本體存儲器中,也可以保存在50點的存儲器中。
可以進行校正值設(shè)定、金屬比率換算、逆換算操作等。
符合日本工業(yè)規(guī)格(JIS H8501)規(guī)定的測量方法的測定器。
■ 本體規(guī)格
型號:TH-11
方法:微小面積電解式脫膜方法
測定面積:接觸式L:10 mm2 S:5 mm2
測定范圍:0.1-2.0-400.0 μm(根據(jù)鍍層種類不同)
精度保證:0.1-4.0-30.0 μm(鍍層厚度)
測定精度:±5%
分辨率精度:0.5%(25℃)
測定速度:0.1-0.2μm/s(根據(jù)鍍層種類不同)
可測量的金屬:Cu、Ni、Zn、Sn、Cu-Zn、Sn-Pb、Sn-Zn
單位:0.1-1.0 μm/s
可測量的金屬:Cr、Cu/Zn、Ag、Au、Pb、Fe、Cd、Ni-P
■ 數(shù)據(jù)管理功能規(guī)格
名稱:低費用TH管理系統(tǒng)
存儲器:本體存儲器、存儲卡存儲器
通信接口:RS232C連接
電源:AC90~260V 50/60Hz
周波精度:1Φ 35VA以下
測定溫度:10~40℃
質(zhì)量:2.3kg
尺寸(mm):W250、D215、H110
特點
可以測量鋼、鎳、銅、鋅、鋁、金、銀、銅-鋅合金、銅-錫合金等的鍍層厚度。
可以測量非鐵金屬(鎳-磷、鎳-硼、銅-錫)的無電解鎳鍍層。
可以測量多層鍍層。
可以通過簡單的操作顯示測量結(jié)果。
可以顯示電極電位。
可以顯示測量結(jié)果的統(tǒng)計處理。
可以保存測量結(jié)果,并可制作報告書、圖表。
測量結(jié)果可以保存在本體存儲器中,也可以保存在50點的存儲器中。
可以進行校正值設(shè)定、金屬比率換算、逆換算操作等。
符合日本工業(yè)規(guī)格(JIS H8501)規(guī)定的測量方法的測定器。
■ 本體規(guī)格
型號:TH-11
方法:微小面積電解式脫膜方法
測定面積:接觸式L:10 mm2 S:5 mm2
測定范圍:0.1-2.0-400.0 μm(根據(jù)鍍層種類不同)
精度保證:0.1-4.0-30.0 μm(鍍層厚度)
測定精度:±5%
分辨率精度:0.5%(25℃)
測定速度:0.1-0.2μm/s(根據(jù)鍍層種類不同)
可測量的金屬:Cu、Ni、Zn、Sn、Cu-Zn、Sn-Pb、Sn-Zn
單位:0.1-1.0 μm/s
可測量的金屬:Cr、Cu/Zn、Ag、Au、Pb、Fe、Cd、Ni-P
■ 數(shù)據(jù)管理功能規(guī)格
名稱:低費用TH管理系統(tǒng)
存儲器:本體存儲器、存儲卡存儲器
通信接口:RS232C連接
電源:AC90~260V 50/60Hz
周波精度:1Φ 35VA以下
測定溫度:10~40℃
質(zhì)量:2.3kg
尺寸(mm):W250、D215、H110